本产品符合国标GB/T 43-2013对仪器分辨率的要求，EDX 3000采用Si-Pin半导体探测器，远胜于正比计数探测器； 准确无误地分析黄金， 铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量。
性能特点
长效稳定光管
半导体硅针电制冷系统，摒弃液氮制冷
特别开发应用软件，操作界面十分友好
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
数字脉冲处理器，数据处理快速准确
放大电路、高低压电源
单样品腔，手动开关机盖，操作安全、方便
三重安全保护模式
多变量非线性回归程序
相互的基体效应校正模型
标准配置
Si-PIN半导体探测器、数字多道分析系统、X光管、高低压电源
准直器滤光片系统、样品观测系统、电子控制系统、计算机及打印机
应用领域
质检中心
金银珠宝首饰店
首饰加工厂
贵金属冶炼厂
典当行
分析测试中心
贵金属回收
决定贵金属分析仪器价格有以下几个因素：仪器的核心部件探测器、仪器的软件算法、仪器的其它配置。其中关键的是仪器的探测器，它的价格直接决定仪器的终价格走向。目前**范围内，贵金属分析仪器所使用的探测器有三种类型：正比计数管探测器（国产）、Si-Pin探测器（进口）、以及SDD探测器（进口）。
1、配备正比计数管探测器的贵金属分析仪器价格多少钱？
此类仪器价格国内正常都在3万元左右，比如EXF8200，电脑一体机，度0.1，可以分析仪常见的：金银铂钯等贵金属元素。
2、配备Si-Pin探测器的贵金属分析仪器价格多少钱？
此类仪器价格国内一般都在8万元左右。比如EXF9600，也是电脑一体机，度0.05-0.03，可以检测全部贵金属元素。
3、配备SDD探测器的贵金属分析仪器价格多少钱？
此类仪器价格国内一般都在13万元左右。比如EXF9900，也是电脑一体机，度0.01，可以检测全部贵金属元素。
天瑞能量色散X荧光光谱仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果完全符合国标GB-7《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-43《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。
性能特点
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
高信噪比的电子线路单元
全元素测试**X荧光分析软件
与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图
采用世界上的SDD硅漂移探测器，分辨率至139ev，更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的测试
精选**优质组件组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵（选配）
极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
测量对象状态：粉末、固体、液体
同时分析元素：30种元素同时分析
元素含量分析范围：1ppm-99.99
能量分辨率为：140±5ev
测量时间：60s-200s（可调）
制冷方式：电制冷，*任何耗材
环境温度：10℃-30℃
环境湿度：35-70
输入电压：AC 110V/220V
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
样品腔尺寸：334×500×80mm
外观尺寸：670×533×855 mm
重量：80kg
标准配置
美国Amptek原装进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、高效X光管
计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配）
软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）
应用领域
黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。
分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等
贵金属分析仪
硬件*特性：符合严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高，性能好，寿命长；全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高；配备高清晰的摄像定位系统，测量更直观、方便、快捷。配置固定样品用多轴向夹具。
激发源：Mo的X光管风冷（*）
测量点尺寸：1～2mm
样品室：长400mm×宽：300mm×高：0～90mm样品放大成像系统
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机：选择配置
检测器：固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格：
电压：100～127或200～240V，50／60Hz
功率：120W
处尺寸：500mm＊500mm＊400mm
重量：48kg
技术指标
分析范围：1～99.99
测量时间：自适应
测量精度：±0.1
测试环境：常温常态
分析元素：Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD、W
X射线源：X射线光管
高压器：4～50Kv
分析：多通道模拟
操作系统：Windows2000／Me／XP
镀层测量：
镀层厚度范围＜30μm
可测量元素种类：Au、AG、PT、Pd、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD
测量层数：5层
测量精度：0.03μm
-/gjdgee/-
http://jstryq.cn.b2b168.com
