x射线镀层测厚仪型号 膜厚分析仪 电解镀层测厚仪
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产品描述

分析范围0-50微米 分析精度5 较薄测试0.005微米 仪器架构上照式 仪器重量90公斤 分析时间30S
Thick800A是天瑞集多年的经验,研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
测厚仪产品特性
★进口高精度传感器,保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
★测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式,更方便客户选择
★配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果
★打印值、小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据
★仪器自动保存多100组测试结果,随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小
★软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输
x射线镀层测厚仪型号
此次天瑞仪器授牌为商业秘密保护示范点,将有效地加大公司商业秘密保护力度,切实保护公司商业秘密核心知识产权,更好的推动公司的创新发展。今后,天瑞也将发挥出示范作用,配合,推进更多示范点建设,共同做好商业秘密保护工作。
x射线镀层测厚仪型号
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
x射线镀层测厚仪型号
天瑞仪器一直以来都是以客户需求为出发点,解决客户的后顾之忧。通过此次会议,不仅加强了多方联系,获得面对面交流的机会,同时也提高了用户的操作水平,解决了用户在日常操作中遇到的问题,帮助用户更好的使用仪器。
2019年3月,天瑞仪器控股子公司沁水璟盛生活垃圾全资源化有限公司沁水县生活垃圾处理项目举行开工仪式,标志着天瑞仪器进入环保领域的新起点。
20182018年3月,天瑞仪器全资子公司天瑞环境科技仙桃有限公司在湖北省仙桃市成功举办开业庆典。天瑞仪器在环境治理领域迈进了更为坚实的步伐。
2017
2017年1月,出资成立仙桃子公司,命名天瑞环境科技(仙桃)有限公司。
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