xrf荧光光谱分析仪原理 制造厂家

ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍，ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力，对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪，是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
玩具法规在全世界范围内不断完善，如欧盟的《玩具指令》、美国的玩具标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具标准。这些标准对于玩具企业来说，执行这些标准责无旁贷；至于说到管控成本过高的问题，其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具检测设备，X荧光光谱仪是经济有效的检测设备，它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、汞、硒等）、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。

如何选择ROHS检测仪呢？作为的 rohs检测仪生产商，可以从以下几方面入手考虑，
 先要考察公司的实力，与购买其他产品一样，要购买XRF，我们需要了解该是不是在RoHS指令期间出现。我们都知道仪器技术依赖于积累和沉淀，如果这个公司没有长时间的技术积累，只是为RoHS而生。没有市场认可度很可能突然蒸发，用户将做什么以及谁将负责服务？ 
  除了测试RoHS指令测量的元素外，仪器的某些XRF还具有其他功能。有XRF还具有厚度测量功能。以及其它成分的分析。
仪器的性能是购买仪器非常重要的指标。为什么仪器的价格相差较大，主要原因是仪器的心脏，探测器
探测器分辨率的高低决定了仪器的价格和主要性能

X射线荧光光谱仪有多种，以能量色散和波长色散为主。
1． 能量色散荧光光谱仪
能量色散型仪器大的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要人员操作，缺点是对铬和溴是总量测定（一般不影响使用，因为很多情况可以判定，如测铬总量**标，常可知是不是六价铬**标，特别是溴，如被作为阻燃剂加入，不管是那种溴，总量**标就不合格）。
进口或国产的各种能量色散荧光光谱仪技术水平虽有差别，但已够应对RoHS检测，用户应根据自己的能力来选购国产或进口的。国产的XR-306能量色散X射线荧光光谱仪也能满足RoHS的检测。
2．波长色散荧光光谱仪。
此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多，
 特别是进口的百万元以上，所以没有外国公司建议用。仪器操作和能量色散一样，不需要人员。
国产BX-100R是波长色散荧光光谱仪。价格比进口的能量色散型的还*，使用寿命也比能量色散的长一倍（主要指探测器，能量型的一般为5年，波长型的一般为10年）。
波长型大优点是用在原材料厂上，其测定的数据准确，给生产厂以确信的合格材料。
缺点是，波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测才准确。所以，用在材料厂适合。如不制成样本（非破坏），会因材料表面形状不同而产生不同误差。

抽真空的ROHS检测仪和其它的非抽真空的ROHS检测仪大的区别在于其多了一个真空泵的配置，在其检测环镜里是真空的状态，这减少了空气对一些轻元素的干扰，提高了检测限，也提高的检测的精准度和稳定性。
抽真空EX7900参数：
产品型号：EDX 7900
产品名称：X荧光光谱仪 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同） 同时分析元素：一次性可测几十种元素 分析精度：0.05 （含量**96以上的样品、21次测试稳定性） 测量时间：30秒-200秒 探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃ 环境湿度：35-70样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg
硬件配置
**薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术信噪比增强器 SNE光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵
应用领域
ROHS检测，无卤检测，合金检测、全元素成份分析、有害元素检测（RoHS、卤素
分析原理：
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪，其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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