铜合金XRF检测设备

XRF合金快速分析仪产品介绍：

利用XRF无损伤分析原理快速实现铜合金，不锈钢，镍合金，蒙耐尔，哈希合金，高温合金的成分分析是XRF合金分析仪的基本功能。新一代X光管提高仪器的测试效率，并优化产品性能和提高安全防护等级，天瑞公司特别设计科该款XRF分析仪EDX4500。

天瑞仪器的EDX4500就是一款高性能的合金分析仪。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。

XRF铜合金分析仪完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析。应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性。不添加任何硬件设施既可升级分析功能，方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类。

一、工作条件：

1.1 工作温度：15-30℃

1.2 相对湿度：40～50

1.3电 源：AC :220V ±5V

二、技术性能及指标:

2.1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；

??2.2. 元素含量分析范围为1 PPm到99.99；

2.3. 测量时间：100-300秒；

2.4. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度较高达1PPM；

2.5. 能量分辨率为149±5电子伏特；

2.6. 温度适应范围为15℃至30℃；

2.7 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）

三、产品特点

3.1EDX 4500是专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品。

3.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。

3.3采用美国较新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。

3.4采用*的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。

3.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。

3.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。

3.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品较高级。

3.8先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到较大提高，保证了核心部件的运行安全。

售后服务：

公司本着“客户至上、高效快捷、诚信务实、价格合理"的经营合作理念,为您提供快速优质的技术服务。产品送货上门，培训安装，耗材配件，实验室打包解决方案。

专业的400售后维修热线，7*24小时在线，4小时响应，24小时上门服务。

XRF

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

原理

X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。

X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出的电子会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。

波长

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z? s) ?2式中K和S是常数。

能量

而根据**理论，X射线可以看成由一种**或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为：

E=hν=h C/λ

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。

因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

分类

不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。

因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：

波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)