膜厚测试仪仪 国产x荧光测厚仪
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产品描述

分析范围0-50微米 分析精度5 较薄测试0.005微米 仪器架构上照式 仪器重量90公斤 分析时间30S
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
此次天瑞仪器授牌为商业秘密保护示范点,将有效地加大公司商业秘密保护力度,切实保护公司商业秘密核心知识产权,更好的推动公司的创新发展。今后,天瑞也将发挥出示范作用,配合,推进更多示范点建设,共同做好商业秘密保护工作。
国产x荧光测厚仪
天瑞仪器一直以来都是以客户需求为出发点,解决客户的后顾之忧。通过此次会议,不仅加强了多方联系,获得面对面交流的机会,同时也提高了用户的操作水平,解决了用户在日常操作中遇到的问题,帮助用户更好的使用仪器。
国产x荧光测厚仪
测厚仪产品特性
★进口高精度传感器,保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
★测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式,更方便客户选择
★配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果
★打印值、小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据
★仪器自动保存多100组测试结果,随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小
★软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输
国产x荧光测厚仪
测厚仪
测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
2013年11月7日,时任国家环保部总万本太来天瑞参观,对天瑞仪器**国产仪器的发展赞誉有加。
http://jstryq.cn.b2b168.com
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