元素范围从硫到铀
检测限1ppm
重复性0.1
测试误差15
分辨率160ev
X光管0-50kv
电源电压220V
环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
RoHS是由欧盟立法制定的一项强制性标准,它的全称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》(Restriction
of Hazardous
Substances)。ROHS检测仪,ROHS测试仪器该标准将于2006年7月1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于消除电机电子产品中的铅、汞、镉、六价铬、和醚共6项物质,并重点规定了铅的含量不能**过0.1。其中涉及到的铅主要出处有以下几类。
[编辑本段]欧盟RoHS和WEEE指令的基本内容
欧盟议会及欧盟会于2003年2月13日在其《公报》上发布了《废旧电子电气》设备指令(简称《WEEE指令》)和《电子电气功设备中限制使用某些有害物质指令》(简称《RoHS指令》)
《RoHS指令》和《WEEE指令》规定纳入有害物质限制管理和报废回收管理的有类102种产品,**类产品都是我国主要的出口电器产品。ROHS检测仪,ROHS测试仪器包括大型家用电器、小型家用电器、信息和通讯设备、消费类产品、照明设备、电气电子工具、玩具、休闲和运动设备、设备(被植入或被感染的产品除外)、监测和控制仪器、自动售卖机。
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相比之前的传统的ROHS检测仪,虽然它们大多型号也能在原基础升级为卤素测试,但需在硬件和软件上做较大的改动,且成本较高,目前市场上的能测ROHS和卤素的仪器都是分体式设计,成本较高些,而天瑞的EDX1100在算法软件上,将ROHS测试和卤素测试一体化,两者化二为一,等于是一个整体,在产品成本上大大得到了压缩,也等于是直接让利了客户,相比之前分体式设计也能同时检测ROHS和卤素的机台,EDX1100的一体化设计,成本至少降低了30,EDX1100也采用的是新一代的铍窗X大功率光管,寿命提高了5000小时,在应用上属于通用于ROHS检测仪器,广泛应用于塑胶,五金,电子电器,化工等生产和制造领域环保临测。
技术参数
测量元素范围 :硫(S)~铀(U)测量时间:200S
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm含量范围:1ppm~99.9稳定性:0.01管压:5~50KV管流:≤1000uA探测器:SDD探测器,分辨率可达125eV准直器:6种准直器自动切换滤光片:5种滤光片自由切换样品观察:高清工业摄像头环境湿度:≤70环境温度:15℃~30℃电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
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X荧光光谱测试仪器用于检测rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六价Cr以及总Br、Cl等元素含量的仪器,X荧光光谱测试仪器适合塑料,电子电子,玩具,皮革,线路板,汽车内饰,设备等是否符合欧盟指令标准的检测仪器。
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EDX采用新一代的铍窗X大功率光管,比市场上其它同类设备寿命提高了5000小时,为了压缩成本,在产品结构优化和硬件上进一步高质设计,减少一些不必要的-客户在实际使用中并用不上的软硬件配置,很大程度上节省了产品的成本费用,使得成本降低20多,直接让利给客户。成为市场上的**型产品。成为很多小型工厂的。在应用上属于通用型产品,应用于一切材料的ROHS和无卤检测,EDX5500对被检测材料的种类,化学或物理性质都没有限制,无论是成品,或半成品,无论是金属,塑胶,皮革,化工,鞋材,合成料,固体,液体,粉末等,都能准确,无损,快速地检测。EDX5500-ROHS检测仪器,广泛应用于塑胶,五金,电子电器,化工等生产和制造领域环保临测。
技术参数
测量元素范围 :硫(S)~铀(U)包含ROHS和卤素的所有元素。可以准确定量。测量时间:200S
配新算法的ROHS分析软件,卤素分析软件,材料成份分析软件,软件算法为德国。
检出限:分析检出限可达1ppm。含量范围:1ppm~99.9稳定性:0.01管压:5~50KV管流:≤1000uA探测器:SDD探测器,分辨率可达135eV准直器:10种准直器自动切换滤光片:6种滤光片自由切换样品观察:高清工业摄像头环境湿度:≤70环境温度:15℃~30℃电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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