skyrayxrf镀层膜厚仪

镀层测厚仪产品详细资料介绍，镀层测厚仪配置和产品构造请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供镀层测厚仪产品原理说明书和产品报价。微米级的金属镀层厚度分析通常用到x射线荧光分析技术，由原子外层电子跃迁所产生光谱能量叫x射线荧光，不同金属的荧光光谱能级不同，从而有了成分分析和厚度分析的基础。
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X-ray镀层测厚仪在电镀检测行业中， 针对上述五项需求的应用：
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速：1分钟可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。
    天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
    我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。
“快速、准确、到位”的服务
短交货时间
快安装
短维修周期
长保修期
个性化服务
低维护费用
Thick 8000 镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。
精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果
分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃

天瑞仪器有限公司生产的XRF镀层测厚仪在电镀检测行业中， 针对上述五项需求的应用：
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速：1分钟可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

天瑞仪器thick800a是一款基于X射线荧光分析的镀层测厚仪。利用X射线荧光的无损分析和现代计算机技术结合，能够实现全部的金属镀层厚度测试。检测厚度范围0-50微米，薄至0.005微米。镀金，镀银，镀镍，镀锌，镀铜，镀铬，Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。下面我们对这几类仪器进行介绍。

元素分析范围：硫（S）～ 铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，5层镀层 
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：2ppm～99.9%
镀层厚度：50μm以内（每种材料有所不同） 
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序 
重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
操作环境温度：15℃～30℃ 
电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 
外观尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg
开放式样品腔 
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动 
双激光定位装置 
铅玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
X光管 
高度传感器 
保护传感器 
计算机及喷墨打印机
总体目标
针对本仪器采购项目的售后服务体系及培训的总体目标是：
凭借公司的优势保证所提供的软硬件正常、稳定、不间断的运行；
依赖公司深厚的技术基础对系统定期的和不定期的巡查和检测，使其永远保持佳运行状态
秉承“实时响应，点对点服务”的原则，实时解决用户在产品使用上出现的问题；
让用户切实了解自身运用的系统特点，更好的操作运用系统，共同保证系统更稳定的运行，业务更好的开展。
售后服务原则：
项目建设是一项复杂而长期的技术服务，为了切实作好系统的服务工作，制定以下原则作为工作的主要原则：
响应及时性原则：公司的技术服务部以及客户服务部门将负责对此项目的快速响应，并提供7*响应服务。
服务规范性原则：我们的实施和技术支持、维护不仅具有技术技能，而且都通过公司客户服务规范的培训，并严格按照我公司的客户服务规范提供客户服务。
解决问题性原则：解决问题性是通过现场支持的技能快速定位和解决问题
售后服务的**
客户服务响应流程：
“以客户为中心”是我们的重要经营理念。为了真正切实贯彻这一理念，保证对客户问题及时响应和规范服务，公司建立了一套科学、合理的客户服务响应系统。公司客户服务中心向客户提供7*全时响应服务。
系统故障报告与预防处理流程：
用户发现系统故障，工作时间通过服务电话，非工作时间拨机；用户向客户服务中心描述故障情况，服务技术人员解答用户问题，如能解决，则同时发送档案资料库相应的故障处理文档交与用户。如问题复杂，服务中心解决不了。则可通过下述方式解决：
Ø 通知技术支持中心，技术支持中心立即做出反应。由技术支持中心远程用户进行自诊断解决或远程登陆到用户系统诊断并排除故障；如问题复杂，远程无法解决，则到现场处理问题。
Ø 如果用户提出的是综合性的技术问题，则由项目咨询来解答问题。
Ø 以上所有处理过程都记录到支持中心的用户档案。
http://jstryq.cn.b2b168.com