x荧光光谱仪主要特点
1.检测对象:液体/固体/粉末-固体样品:点射配件-液体样品:样品池配件，适用于8mm瓶,NMR管和MP管?
2.显微镜:可选显微镜配件
3.便携式：-重量轻-远程控制-蓝牙无线数据传输(或U)-电池可持续运作5小时-数据库可无限扩充?
4.**小的高性能光谱
5.120mW激发光源，功率可变
6.荧光成像可选
7.达到极限衍射的成像和光谱
8.数据库可无限扩展
X荧光光谱仪优点
a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，10～300秒就可以测完样品中的全部待测元素。
b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在**软X射线范围内，这种效应更为显着。波长变化用于化学位的测定 。
c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
e) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。
f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
x荧光光谱仪xrf是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合得奖号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。
x荧光光谱仪xrf标准配置
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
合金测试高效**薄窗X光管
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
三重安全保护模式
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm70mm的液晶屏
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
外形尺寸：660mm510mm350mm
样品腔体积：320mm100mm
重量：65Kg
x荧光光谱仪xrf性能特点
高效**薄窗X光管，指标达到国际先进水平
针对合金的测试而开发的**配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
天瑞仪器**产品信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
x荧光光谱仪xrf技术指标
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围：ppm99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（1405）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
x荧光光谱仪xrf应用领域
检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品，同时可以测试矿石成份、环保ROHS测试等，天瑞仪器作为3600H型X荧光光谱仪厂家，产品价格更优惠，质量更有**，维护成本更低，为客户降低了各方面成本。
台式x荧光光谱仪介绍
?台式x荧光光谱仪样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。
（1）固体块状样品包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等，其中金属材料占了很大的比例。
（2）粉末样品包括各种矿产品，水泥及其原材料，金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等；还有岩石土壤等。
（3）液体样品油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。
台式x荧光光谱仪中不同样品有不同的制样方法。金属样品如果大小形状合适，或者经过简单的切割达到国产X荧光光谱仪分析的要求，只需表面抛光，液体样品可以直接分析，大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。而粉末样品的制样方法就比较复杂。这里只对常见的固体和粉末样品的制样方法进行讨论，液体样品就不再讨论。
台式x荧光光谱仪使用中常见的问题及注意事项
1、过滤时有时会出现流动相漏液。可能的原因是滤膜放置不正确和接头有点错位，导致流动相从缝隙中漏出。
?注意：操作时，应先向滤瓶内倒入少量流动相，观察是否漏液并开始过滤，若未漏液，再向滤瓶中添加流动相。
2、超声时，瓶外液体的液面应**瓶内流动相的液面，否则流动相内的气体可能无法排出液体，气体仍然残留在流动相内，以致开机排气时无气泡排出。
3、开机排气结束后，应先将流动相流量调小，再关闭排气阀，否则会导致柱压瞬间升高**过压力上限，致使泵停止工作。
4、反相LC液相色谱仪冲洗柱子时，应尽量避免使用纯水流动相冲洗柱子，因为水极性强，会损害色谱柱，导致柱效下降。
5、冲洗色谱柱时，还可辅助以不同比例的混合流动相冲洗色谱柱，以冲出不同极性的残留物质，但后还是要用纯**流动相冲洗色谱柱一段时间。
6、在实验过程中会出现压力**过上限或压力偏高，有可能是柱内有残留物质未被冲出，此时应用较大流速的**流动相充分冲洗色谱柱。若条件允许，也可采用梯度洗脱的方式冲洗色谱柱。压力过高也有可能是滤头堵塞，此时可将滤头取出放到**溶剂中超声。
7、若隔天或更长时间不使用LC液相色谱仪，应将两流动相瓶中均倒入纯的**流动相（因为水流动相长时间不用会滋生，污染滤头和色谱柱，导致下次开机使用时会出现鬼峰，基线不稳）。
8、进样时所进样品的体积应不小于色谱柱的大容积，且进样时器里的气泡一定要排出，不可将气泡打进色谱柱。
台式x荧光光谱仪由激发源和探测系统构成，可以产生X荧光来检测各元素的特征X射线的强度，从而测定元素含量。台式X荧光光谱仪的正确操作方法如下：
1、仪器采用X光管产生激发源，因此，在不使用时，仪器会自动将X光管的高压断掉，使X光管的电源处理待机状态。此时，仪器将不会产生任何射线，同时大大X光管的寿命。
2、在放置样品时，只要开启防护罩，仪器也自动将X光管停止，不再产生X射线，完全可以保护使用者的人身安全。
3、开启、关闭仪器盖子时，应轻开轻放。
4、设备使用的操作人员，必须要接受安全和操作培训后，才可上机，以确保设备的安全操作与正确使用。
台式X荧光光谱仪的操作人员应该养成正确的设备使用习惯，在使用中严格按照操作规程来对仪器进行操作。
X荧光光谱仪X荧光光谱仪
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
X荧光光谱仪分类
X荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
以X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散型，以能量特征为原理的称为能量色散型。
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