x射线荧光光谱仪报价 仪器
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产品描述

天瑞仪器在引进美国产的卤素测试高效X光管,利用高信噪比的电子线路单元和卤素测试X荧光分析软件,已经成功研制出新款分析仪器EDX1800B(H)。配件是针对卤族元素(特别是氯元素)的测试而开发。经过多次实验无卤分析所得数据分析,无卤分析的结果十分接近标准值,)可广泛应用于各种类型的无卤测试。

仪器详情
型号:EDX 1800B
仪器介绍
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
精准的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
ROHS检测和镀层测厚
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
x射线荧光光谱仪报价
天瑞仪器公司是**专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX融汇合金分析技术,配备智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。


EDX合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合良好号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。


性能特点:


高效**薄窗X光管
针对合金的测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性;
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制;
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然


标准配置:


合金测试高效**薄窗X光管
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg


技术指标:


测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
能量分辨率为:(140±5)eV
管压:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA


应用领域:


检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品
x射线荧光光谱仪报价
RoHS实验室建立方案
RoHS实验室的建立,不但能够满足电子行业中禁用物质检测,还可满足POHS指令中各限用物质的检测
RoHS分析仪器配置:
1.X荧光光谱仪
2.电感耦合等离子体发射光谱仪
3.气质联用仪
4.紫外可见光分光光度计
对检测样品可先进行快速扫描,比如先用XRF仪器对样品进行粗测,发现管控元素**过控制标准或接近管控标准时,再进一步用化学方法进行确认,这种物理和化学检测相结合的形式可大大减少检测成
本,缩短检测周期,无形中提高了检测效率,对生产单位来讲,就是赢利。
1.快速分析仪器: XRF系列 可元素扫描 也可膜厚检测
作用:短时间内检测样品中含有哪些元素以及范围。
目前我公司能够检测RoHS的有三款:
x射线荧光光谱仪报价
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
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