是否进口否
是否跨境货源否
适用范围固体
报价方式电话报价
加工定制
采用CMOS检测器全谱测试技术,可测试覆盖波长范围内的所有谱线,配置和补充测试基体、通道、分析程序较为方便。仪器体积小巧,方便维护和实验室放置。OES8000s是全面测试钢铁和有色金属材料元素的通用型仪器,可以满足包括:Fe基体、Cu基体、Al基体、Ti基体、Pb基体、
Mg基体、Co基体等基体要求,是金属元素分析的优选择。
全谱分析技术,方便配置更多基体和元素,方便在用户现场补充配置
仪器体积小巧,对实验室空间要求低
全天候工作,具有优异的稳定性和可靠性
样品测试速度快,单次测试过程少于40秒
仪器使用和维护简单、方便,对人员要求低
原厂安装分析程序,测试数据,适用合齐全
配置标准化样品可对仪器进行周期性校正
不使用化学试剂,测试过程安全、环保
技术优势
天瑞直读光谱仪OES8000s广泛应用于钢铁及有色金属产品元素分析,快速、、稳定、可靠测试几十种元素,满足工业研发、工艺控制、进料检验、产品分选多方面检验需求,是生产金属产品的*设备。
全谱检测全面测试各种金属和元素
基于CCD检测器全谱测试技术,全面测试各种金属中元素的谱线,方便实现多基体、多元素的测试。
配置和补充测试基体、通道、分析程序较为方便,方便交货后在客户处补充测试元素、分析程序。
国际供应商提供核心部件
光谱色散元件——光栅由德国Zeiss/法国JY公司制造,保证优异的光谱分辨能力
光谱检测器——COMS探测器由日本滨松制造,确保谱线检测灵敏、低噪声
光室恒温系统
光室恒温腔体内配置反馈式加热装置和隔温层,有效保证光室内恒温。
由此抑制温度变化下机械件尺寸微弱变化导致的光路漂移。除维护,平时保养一般不需进行描迹。
同时检测器工作在恒温环境有助于光电转换性能的稳定。
快速同时分析钢铁、有色金属材料中多种元素
将已预处理样品置于样品台后,OES8000s可在至多40秒内呈现测试结果。
可根据客户需求,测试几乎所有钢铁、有色金属材料中常见元素含量。
的测试方案
长期测试技术服务的积淀,天瑞仪器为钢铁、有色金属材料分析用户提供成熟的测试方案。
测试方案采用针对材料元素含量分类的分析程序,满足用户各类常见测试需求。
分析程序由原厂采用国际、标准样品校准,经仪器软件拟合、校正。
用户只需采用原厂配置少量标准化样品即可完成日常维护,不需购买大量制作分析程序的标准样品。
工作条件
工作温度:15-30℃
相对湿度:≤70
电 源:220±5V,单相50Hz,接地电阻<1Ω
实验室无震动、粉尘、强电磁干扰、强气流、腐蚀性气体
每一条所发射的谱线的波长,取决于跃迁前后两个能级之差。由于原子的能级很多,原子在被激发后,其外层电子可有不同的跃迁,但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”),因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线,这些谱线按一定的顺序排列,并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析),而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关,因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。这就是发射光谱分析的基本依据。
1.光谱分析仪(辐射计)系统优点
光谱分析仪(辐射计)系统采用的全息平场凹面衍射光栅和高性能带电子快门控制技术的线性CCD阵列探测器组成。并采用控制杂散光技术、精密阵列探测器电子驱动技术和宽动态线性技术,整个系统达到杂散低、动态范围宽、毫秒级的测试速度及传统机械式光谱仪的高精度要求。
2.光谱分析仪(辐射计)系统组成
CMS光谱分析仪(辐射计)、积分球、精密交直流电源、校准定标系统及其他高精度仪器等组成。
3.光谱分析仪(辐射计)系统参考标准(LED模组、LED灯、LED灯具的光色电参数测量部分标准):
CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84:1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
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4.光谱分析仪(辐射计)系统测量参数:
色品坐标(x,y)、相关色温、光通量、光效、能效指数(EEI)、能效等级、显色指数、颜色质量量表、色品坐标(u,v)、色品坐标(u`,v`)、主波长、色纯度、峰值半宽度、色比、光辐射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨视觉光通量、中间视觉光通量及电参数等参数。
光谱仪,又称分光仪,广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝,散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。
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