X射线荧光光谱仪 X射线镀层测厚仪

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1
稳定性：可达0.1
SDD探测器：分辨率低至eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90
操作环境温度 15℃～30℃

此次天瑞仪器授牌为商业秘密保护示范点，将有效地加大公司商业秘密保护力度，切实保护公司商业秘密核心知识产权，更好的推动公司的创新发展。今后，天瑞也将发挥出示范作用，配合，推进更多示范点建设，共同做好商业秘密保护工作。

为了更好的服务客户，**用户仪器的良好性能。2021年3月19日，由江苏天瑞仪器股份有限公司（以下简称天瑞仪器）举办的客户培训会议在浙江省宁波市阳光豪生大酒店举行。
      本次培训会采用理论知识与现场实际操作相结合的形式，旨在提高用户对天瑞仪器产品应用操作及后期运维的能力，让大家在实际操作中得心应手。来自浙江地区的近百位用户积极参加。现场进行培训的仪器有EDX1800B能量色散X荧光光谱仪、THICK800A X荧光镀层测厚仪、GCMS6800气相色谱质谱联用仪、LC310液相色谱系统、OES8000S直读光谱仪以及环境试验箱操作培训。
根据客户实际需求，培训节奏紧凑且具针对性，天瑞仪器技术们通过精心授课，现场操作教习，为参会人员提供了的学习机会，使其能够正确、的使用仪器。
2013年，天瑞仪器控股厦门质谱。
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