分析范围0-50微米
分析精度5
较薄测试0.005微米
仪器架构上照式
仪器重量90公斤
分析时间30S
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
昆山市市场局通过走访座谈、问卷调查等方式，筛选了多家企业，选取了天瑞仪器作为商业秘密示范点建设单位。会上，市场局就我公司成为昆山商业秘密保护示范点给予了充分肯定和高度评价，并为构建完善的商业秘密保护系统提出了宝贵的意见和建议，旨在进一步加强对商业秘密的管理，以促进我公司健康、稳步、飞跃发展。
天瑞仪器一直以来都是以客户需求为出发点，解决客户的后顾之忧。通过此次会议，不仅加强了多方联系，获得面对面交流的机会，同时也提高了用户的操作水平，解决了用户在日常操作中遇到的问题，帮助用户更好的使用仪器。
Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及平台。是功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
为了进一步促进推进我国有色金属化学元素分析检测技术进展与产业升级，促进应用范围的不断加深与扩大，切实解决当前本领域内关注的热点、焦点和难点问题；3月29日—3月31日，由中冶有色技术平台、中冶有色技术网主办，江苏天瑞仪器股份有限公司（以下简称天瑞仪器）协办的“有色金属化学元素分析检测技术交流会”（以下简称交流会）在昆山成功举行。
2013年，天瑞仪器控股厦门质谱。
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