x荧光镀层测厚仪 性能高的 膜厚检测仪
  • x荧光镀层测厚仪 性能高的 膜厚检测仪
  • x荧光镀层测厚仪 性能高的 膜厚检测仪
  • x荧光镀层测厚仪 性能高的 膜厚检测仪

产品描述

分析范围0-50微米 分析精度5 较薄测试0.005微米 仪器架构上照式 仪器重量90公斤 分析时间30S
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
作为国内化学分析行业的,拥有多年累积的分析测试仪器的技术和实力,产品广泛应用于有色金属行业中的地质考察、矿产、冶炼、加工、实验室研究、生产制造等环节。作为此次会议的协办方,还特地安排了学者们来公司参观考察,天瑞仪器总经理应刚热情的接待了考察团一行。
x荧光镀层测厚仪
昆山市市场局通过走访座谈、问卷调查等方式,筛选了多家企业,选取了天瑞仪器作为商业秘密示范点建设单位。会上,市场局就我公司成为昆山商业秘密保护示范点给予了充分肯定和高度评价,并为构建完善的商业秘密保护系统提出了宝贵的意见和建议,旨在进一步加强对商业秘密的管理,以促进我公司健康、稳步、飞跃发展。
x荧光镀层测厚仪
Thick800A是天瑞集多年的经验,研发用于镀层行业的仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及平台。是功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
x荧光镀层测厚仪
测厚仪
测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商,一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念,以提高顾客满意度为根本目标,从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
    我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务,更为客户创造了更高的价值。
“快速、准确、到位”的服务
短交货时间
快安装
短维修周期
长保修期
个性化服务
维护费用
http://jstryq.cn.b2b168.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第2647322位访客

版权所有 ©2024 八方资源网 粤ICP备10089450号-8 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 八方供应信息 投诉举报 网站地图