天瑞仪器X射线镀层测厚仪
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产品描述

产品规格上照式包装说明木箱包装检测限0.005微米 重量90kg 环境温度15-30度 元素范围从硫到铀 分析时间30秒 分辨率128ev 分析误差RSD小于5

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