X射线荧光光谱仪 镀层测厚仪

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
天瑞仪器一直以来都是以客户需求为出发点，解决客户的后顾之忧。通过此次会议，不仅加强了多方联系，获得面对面交流的机会，同时也提高了用户的操作水平，解决了用户在日常操作中遇到的问题，帮助用户更好的使用仪器。

镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1
稳定性：可达0.1
SDD探测器：分辨率低至eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90
操作环境温度 15℃～30℃

测厚仪
测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

为了进一步促进推进我国有色金属化学元素分析检测技术进展与产业升级，促进应用范围的不断加深与扩大，切实解决当前本领域内关注的热点、焦点和难点问题；3月29日—3月31日，由中冶有色技术平台、中冶有色技术网主办，江苏天瑞仪器股份有限公司（以下简称天瑞仪器）协办的“有色金属化学元素分析检测技术交流会”（以下简称交流会）在昆山成功举行。
2013年4月19日，天瑞连续*五年蝉联“具影响力厂商”，EDX-P730手持式X荧光光谱仪蝉联“年度受关注仪器”。
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