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江苏天瑞仪器股份有限公司(jstryq.cn.b2b168.com)主要生产:rohs检测仪,天瑞仪器,x荧光光谱仪,手持式光谱仪等产品,全国统一热线:13814856624。江苏天瑞仪器股份有限公司成立专业的客户服务,即时快速的解决客户问题,4小时响应,24小时上门服务。

    岛津xrf 光谱

    更新时间:2024-05-07   浏览数:35
    所属行业:仪器仪表 分析仪器 X射线仪器
    发货地址:江苏省苏州昆山市  
    产品数量:9999.00台
    价格:面议
    元素范围从硫到铀 检测限1ppm 重复性0.1 测试误差15 分辨率160ev X光管0-50kv 电源电压220V 环境温度15-30度
    ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
    技术指标:
    元素分析范围:硫(S)~铀(U) 
    分析含量:0.1ppm~99.9
    重复性:0.1
    稳定性:0.1
    环境温度:15℃~30℃ 
    电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
    仪器配置:
    **锐X光源和样品激发机构 
    上盖电动开关的大容量样品腔 
    可自动切换的准直器,滤光片 
    高清晰CCD摄像头 
    Si-PIN探测器 
    信号检测电子电路 
    高低压电源 
    计算机及喷墨打印机 
    X荧光分析软件
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    RoHS是由欧盟立法制定的一项强制性标准,它的全称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》(Restriction
     of Hazardous 
    Substances)。ROHS检测仪,ROHS测试仪器该标准将于2006年7月1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于消除电机电子产品中的铅、汞、镉、六价铬、和醚共6项物质,并重点规定了铅的含量不能**过0.1。其中涉及到的铅主要出处有以下几类。
    [编辑本段]欧盟RoHS和WEEE指令的基本内容
    欧盟议会及欧盟会于2003年2月13日在其《公报》上发布了《废旧电子电气》设备指令(简称《WEEE指令》)和《电子电气功设备中限制使用某些有害物质指令》(简称《RoHS指令》)
    《RoHS指令》和《WEEE指令》规定纳入有害物质限制管理和报废回收管理的有类102种产品,**类产品都是我国主要的出口电器产品。ROHS检测仪,ROHS测试仪器包括大型家用电器、小型家用电器、信息和通讯设备、消费类产品、照明设备、电气电子工具、玩具、休闲和运动设备、设备(被植入或被感染的产品除外)、监测和控制仪器、自动售卖机。
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    X荧光光谱测试仪器用于检测rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六价Cr以及总Br、Cl等元素含量的仪器,X荧光光谱测试仪器适合塑料,电子电子,玩具,皮革,线路板,汽车内饰,设备等是否符合欧盟指令标准的检测仪器。
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    抽真空的ROHS检测仪和其它的非抽真空的ROHS检测仪大的区别在于其多了一个真空泵的配置,在其检测环镜里是真空的状态,这减少了空气对一些轻元素的干扰,提高了检测限,也提高的检测的精准度和稳定性。
    抽真空EX7900参数:
    产品型号:EDX 7900
    产品名称:X荧光光谱仪 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)元素含量分析范围: ppm—99.99(不同元素,分析范围不同) 同时分析元素:一次性可测几十种元素 分析精度:0.05 (含量**96以上的样品、21次测试稳定性) 测量时间:30秒-200秒 探测器能量分辨率为:145±5eV管压:5KV-50KV 管流:50μA-1000μA测量对象状态:粉末、固体、液体输入电压:AC 110V/220V环境温度:15℃-30℃ 环境湿度:35-70样品腔体积:320mm×100mm外形尺寸:660mm×510mm×350mm重量:65Kg
    硬件配置
    **薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术信噪比增强器 SNE光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵
    应用领域
    ROHS检测,无卤检测,合金检测、全元素成份分析、有害元素检测(RoHS、卤素
    分析原理:
    ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
    nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
    式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
    能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
    Q=KE
    式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
    待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
    为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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