xrf分析仪 X射线 生产厂家
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产品描述

元素范围从硫到铀 检测限1ppm 重复性0.1 测试误差15 分辨率160ev X光管0-50kv 电源电压220V 环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
玩具法规在全世界范围内不断完善,如欧盟的《玩具指令》、美国的玩具标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具标准。这些标准对于玩具企业来说,执行这些标准责无旁贷;至于说到管控成本过高的问题,其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具检测设备,X荧光光谱仪是经济有效的检测设备,它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、汞、硒等)、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
xrf分析仪
技术指标:
元素分析范围:硫(S)~铀(U) 
分析含量:0.1ppm~99.9
重复性:0.1
稳定性:0.1
环境温度:15℃~30℃ 
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
仪器配置:
**锐X光源和样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器,滤光片 
高清晰CCD摄像头 
Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
计算机及喷墨打印机 
X荧光分析软件
xrf分析仪
RoHS是由欧盟立法制定的一项强制性标准,它的全称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》(Restriction
 of Hazardous 
Substances)。ROHS检测仪,ROHS测试仪器该标准将于2006年7月1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于消除电机电子产品中的铅、汞、镉、六价铬、和醚共6项物质,并重点规定了铅的含量不能**过0.1。其中涉及到的铅主要出处有以下几类。
[编辑本段]欧盟RoHS和WEEE指令的基本内容
欧盟议会及欧盟会于2003年2月13日在其《公报》上发布了《废旧电子电气》设备指令(简称《WEEE指令》)和《电子电气功设备中限制使用某些有害物质指令》(简称《RoHS指令》)
《RoHS指令》和《WEEE指令》规定纳入有害物质限制管理和报废回收管理的有类102种产品,**类产品都是我国主要的出口电器产品。ROHS检测仪,ROHS测试仪器包括大型家用电器、小型家用电器、信息和通讯设备、消费类产品、照明设备、电气电子工具、玩具、休闲和运动设备、设备(被植入或被感染的产品除外)、监测和控制仪器、自动售卖机。
xrf分析仪
EDX5600是国内应用多的一款设备,除了较高的性价比外,其更人性化的设计软硬件,使其在电子电器,通讯制造,家电配件,塑胶,五金等领域得到了广泛的应用,采用新一代的铍窗X大功率光管,寿命提高了5000小时,在应用上属于通用型ROHS检测仪器。
技术参数
测量元素范围 :硫(S)~铀(U) 可以测量包括ROHS卤素元素外的70多种元素。
有ROHS分析软件,只针对ROHS六项测试和卤素元素测试的窗口。一健式操作。
测试时间可人为设置,可短或长。一般测量时间:60S-200S
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm 检出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就检不出来。含量范围:1ppm~99.9稳定性:0.01 管压:5~50KV管流:≤1000uA探测器:半导体电子制冷探测器,分辨率可达165eV准直器:8种准直器自动切换滤光片:4种滤光片自由切换样品观察:高清工业摄像头环境湿度:≤70环境温度:15℃~30℃电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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