edx1800b天瑞仪器

天瑞仪器edx1800b产品详细技术资料介绍，天瑞仪器edx1800b参数和性能配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司销售部提供rohs检测仪EDX1800b产品报价和说明。一键式设计的xrf测试仪器被广泛应用于rohs指令的有害物质含量测试和分析，*化学前处理的特性，适合工厂提供分析效率，简化测试手段。
根据优化产品性能和提高防护等级的需求，特别设计该款EDX0B。应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

工作原理
X荧光光谱ROHS检测仪工作原理是由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理，测试出待测产品的元素含量。

荧光光谱仪是一种波长较短的电磁，通常是指能t范围在0.1^-100keV的光子。台式x荧光光谱仪与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征，通过侧里和分析样品产生的x射线荧光，即可获知样品中的元家组成，得到物质成分的定性和定量信息。
特征台式x荧光光谱仪的产生与特性当用高能电子束照射样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续潜或韧致。另一方面，化学元素受到高能光子或粒子的照射，如内层电子被激发，则当外层电子跃迁时，会放射出特征X射线。特征X射线是一种分离的不连续谱。如果激发光源为x射线，则受激产生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征x射线显示了特征x射线光谱仪产生的过程。

完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析
应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性
利用新X光管提高仪器的测试效率，并优化产品性能和提高防护等级
不添加任何硬件设施既可升级分析功能，方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类
采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低
检测时间短，可以大大提高工作效率
ROHS检测仪相关基础术语知识
1.精密度
定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说，精密度是重现性（Reproducibility或Repeatability）。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的，测量的时间越长，则精度越高。
2.重复性
定义为仪器测同一款样品的连续测试十一次或二十一次的相对标准偏差。
3.准确度
定义为各次测定值mi对于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，准确度也一定差。反之，准确度很差，精密度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和准确度都要求高。
4.误差
X荧光分析的误差往往是很难计算的，所以，通常情况下，把统计涨落引起的误差作为测量的误差。
5.检出限（Limit of detection）
当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量，称为检出限（或叫检出限）。这时候，测到的含量的置信度（可信的程度）是99.87.测定检出，一般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样（基体）的不同而不同。
6.计数统计误差
在放射性物质的测量中，假设仪器稳定性、机械在现性可确保，由仪器机械产生的误差可以忽略不计，但计数统计误差还是不能。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值（N）的分布属于随机事件，其标准偏差由 N求出。 N叫统计误差。时间越长，则相对偏差越小，即精度越高。
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