X射线荧光光谱仪 性能高的

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
为了进一步促进推进我国有色金属化学元素分析检测技术进展与产业升级，促进应用范围的不断加深与扩大，切实解决当前本领域内关注的热点、焦点和难点问题；3月29日—3月31日，由中冶有色技术平台、中冶有色技术网主办，江苏天瑞仪器股份有限公司（以下简称天瑞仪器）协办的“有色金属化学元素分析检测技术交流会”（以下简称交流会）在昆山成功举行。

镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1
稳定性：可达0.1
SDD探测器：分辨率低至eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90
操作环境温度 15℃～30℃

镀锌板是指表面镀有一层锌的钢板。全世界锌产量的一半左右均用于此种工艺，特别是汽车产品，镀锌板广泛应用于乘用车白车身、底盘金属件。镀锌钢板是为防止钢板表面遭受腐蚀，延长其使用寿命，在钢板表面涂以一层金属锌，这种涂锌的薄钢板称为镀锌板Thick 800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及平台。是功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在汽车涂覆层测厚中可谓大展身手。

性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度 
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 
鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点 
高分辨率探头使分析结果更加 
良好的射线屏蔽作用 
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

元素分析范围：硫（S）～ 铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，5层镀层 
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：2ppm～99.9
镀层厚度：50μm以内（每种材料有所不同） 
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序 
重复性：可达0.1
稳定性：可达0.1
操作环境温度：15℃～30℃ 
电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 
外观尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg

仪器配置

开放式样品腔 
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维 
双激光定位装置 
铅玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探测器 
检测电子电路 
高低压电源 
X光管 
高度传感器 
保护传感器 
计算机及喷墨打印机

Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及平台。是功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
2013年4月19日，天瑞连续*五年蝉联“具影响力厂商”，EDX-P730手持式X荧光光谱仪蝉联“年度受关注仪器”。
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