x射线荧光光谱仪-x射线荧光光谱仪定做

针对EDX 1800B在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款EDX 1800E。应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。

应用领域

RoHS检测分析

地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析

金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定

黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测

主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业；银

行，首饰销售和检测机构；电镀行业

性能优势

下照式：可满足各种形状样品的测试需求

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用

移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点

高分辨率探测器：提高分析的准确性

新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

检测75种元素·1ppm检出限·重复性0.05·稳定性0.05

新一代光管良好的屏蔽作用，X射线的辐射水平与普通大气环境状态下相等

性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

仪器上盖的测试自锁和高压电源紧急锁功能，带给您*防护

技术参数

元素分析范围：硫（S）~ 铀（U）

分析检出限：1ppm

分析含量：ppm ~ 99.99

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

温度适应范围：15℃ ~ 30℃

电源：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率：144±5eV

样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm

仪器尺寸：550mm×410mm×320mm

仪器重量：45kg

仪器配置

移动样品平台 

SDD探测器

信号检测电子电路

高低压电源

大功率X光管

计算机及喷墨打印机

本产品是在天瑞仪器多年XRF检测技术和经验基础之上研发的一款新型高端X射线荧光光谱测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现**高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品精确定位

性能特点

快,1秒钟出结果

1、采用行业先进的较速探测器技术——（SDD）分辨率较低至125eV

优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好

对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低

2、采用行业先进的数字多道技术

优势：有效提高输出效率，实现**高计数率，保证采集有效计数率**过600KCPS

3、采用大功率X光管及先进的准直滤光系统

优势：使贵金属的激发效率更高

4、光闸系统

优势：样品更换*关闭高压，提高测试效率与测试精度

精密的定位系统

**高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点

多点测试

2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试

**小样品检测——较小可测到0.2毫米

8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择

准直器较小可达0.2毫米，针对**小样品可准确聚焦检测

可高效区分99.9及99.99黄金纯度

可测量贵金属中有害元素，铅、镉等

人性化的设计

更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动

更快捷：多点测试，点哪测哪

预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试

预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围：硫(S)～铀(U)

检出限：分析检出限可达2ppm，较薄可测试0.005μm

元素含量分析范围：2ppm～99.99

探测器：SDD探测器，分辨率较低可达125eV

管流：≤1000uA

管压：5～50kV

测量时间：1s或以上(可调)

滤光片：4种滤光片自由切换

准直器：8种准直器自动切换

样品观察：高清工业摄像头

环境湿度：≤70

环境温度：15℃～30℃

制冷方式：电制冷，*任何耗材

输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源

仪器配置

SDD探测器

数字多道分析系统

X射线源

高低压电源

准直器滤光片系统

精密移动平台

光闸系统

样品观测系统

电子控制系统

计算机及喷墨打印机

应用领域

ROHS检测仪

镀层测厚

合金分析

不锈钢分析

卤素检测

首饰加工厂

金银珠宝首饰店

贵金属冶炼厂

质量检验部门

分析测试中心

典当行

贵金属回收

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