产品描述
什么是膜厚仪
膜厚仪又名膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值
膜厚仪与涂层测厚仪的差别
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度,常见的铝基,铜基氧化,测量时候用涂层测厚仪选择N(非磁性)探头,这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理,配F合N探头,或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米,但是普通的涂层测厚仪误差比较大,需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层.
两者是只是根据材料有细微区别,不过现在使用者很多不了解,也相互称呼。
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