X射线XRF检测测试仪

EDX4500H具有分析速度快，检测精度高，仪器重复性好，使用寿命长，维护成本低等优点，是集天瑞仪器 二十余年的x射线荧光光谱仪研发技术结晶，实现对各种复杂矿物、有色金属、复合新型材料等元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的铅、镉、砷、镍、铜、锌等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。

另外，在ROHS分析、镀层测厚、卤素检测、红磷成分分析、合金黄铜分析、矿石全元素分析、土壤重金属、沉积物分析等检测应用上也十分广泛。

性能特点

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

高效**薄窗X光管，指标达到国际先进水平

较新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

测量对象状态：粉末、固体、液体

输入电压：AC 110V/220V

环境温度：15℃-30℃

环境湿度：35-70

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）

同时分析元素：一次性可测几十种元素

测量时间：30秒-200秒

探测器能量分辨率为：145±5eV

管压：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

样品腔体积：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

标准配置

高效**薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

江苏天瑞仪器股份有限公司是一家注册资本高达46176万元，旗下多个子公司，以光谱，色谱、质谱为核心的高科技分析仪器企业，公司还是一家上司企业，在深圳创业板上司，股票代码300165。

天瑞仪器的发展历程：

2011年1月25日，天瑞仪器在深证创业板块上市。股票代码为300165。

2011年4月25日，天瑞仪器推出SUPER XRF 2400，其**微量元素检测的*特功能将传统XRF性能提升数倍。

2011年4月26日，在2011中国科学仪器发展年会上，天瑞仪器被授予“2010年度较具影响力国内仪器产商”及“2010年度较佳网络营销奖”。

2011年5月18日，天瑞仪器董事长刘召贵博士喜获**特殊津贴

天瑞仪器的销售营业网点遍布全国，在全国三十个省市设立办事机构，成立全国统一客户服务中心。--，800-9993-800。由客户服务中心统一安排全国及海外的售后维护。我们为客户承诺4小时响应，国内24-72小时的及时上门服务。

天瑞仪器的成交客户，遍布国内外**企业，**。

XRF

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

原理

X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。

X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出的电子会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。

波长

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z? s) ?2式中K和S是常数。

能量

而根据**理论，X射线可以看成由一种**或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为：

E=hν=h C/λ

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。

因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

分类

不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。

因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：

波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)